概述

主要特点和优点

• 500 ps (2 GHz)/32 Mb 定时记录长度，在宽时间窗口上捕获间歇性事件

• 125 ps 分辨率MagniVu^TM采集技术，与定时采集或状态采集同步，迅速查找难检定时问题，无需重复探测

• 毛刺和建立时间/ 保持时间违规触发和显示，查找和显示难检硬件问题

• 235 MHz 状态采集，分析高速同步数字电路

• iView^TM时间相关数字模拟视图，清楚地查看模拟异常事件对数字信号的影响

• 34/68/102/136 通道配置，提供灵活的解决方案，适应任何预算

• Microsoft Windows XP Professional PC 控制器，提供熟悉的用户界面及联网能力

• 使用主机模式或内置Windows XP 远程桌面，通过网络远程控制和监测TLA

应用

• 数字硬件检验和调试

• 监测和测量数字硬件性能

• 调试单一处理器或总线

TLA5000B 系列逻辑分析仪把调试能力与简单性和经济性融为一体

经济的TLA5000B 系列逻辑分析仪为需要识别初始化问题、运行崩溃及间歇性操作的任何数字设计人员，都提供了高速定时分辨率、快速状态采集、长记录长度及完善的触发功能。不管是新用户还是资深的逻辑分析仪用户，TLA5000B 系列都特别适合执行单一总线定时和状态分析。直观的用户界面、用户熟悉的基于Windows 的桌面以及OpenChoice® 联网和分析功能，使得TLA5000B 系列逻辑分析仪可以简便地组网到设计环境中。

500 ps 定时分辨率和32 Mb 记录长度及每个采集内部同时支持125 ps MagniVu 定时分辨率，意味着您可以满怀信心地测量速度日益加快的信号上的数字信号定时。通过MagniVu定时分辨率，可以迅速找到查找困难的问题，如数字逻辑错误、毛刺、建立时间/ 保持时间违规和串扰。可以使用建立时间/保持时间违规触发和显示，验证数字器件的建立时间/ 保持时间性能。

今天，大多数设计同时存在数字异常事件和模拟异常事件。通过iView^TM时间相关的数字模拟视图，您可以清楚地查看模拟异常事件对数字信号的影响，而且就在逻辑分析仪显示器上完成。

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